디지털工學 實驗(실험) - 수 체계 實驗(실험)
페이지 정보
작성일 23-01-30 04:42
본문
Download : 디지털공학 실험 - 수 체계 실험.hwp
핀 번호들은 부록 A의 데이터 시트나 제조업체의 웹 사이트를 참조하기 바란다.
□모의實驗(실험)용으로 결함을 만들어 놓은 회로의 고장 진단.
디지털工學 實驗(실험) - 수 체계 實驗(실험)
test(실험) 순서
레포트 > 공학,기술계열
디지털공학 실험,수 체계 실험
3. 전원을 제거하고, 그림3-2의 회로를 구성하여라. 실제 회로 결선의 예를 그림 3-3에 나타내었다.
수 체계
전원을 인가하기 전에 디코더의 각 출력과 MAN72 입력 사이에 330Ω 전류 제한 저항을 연결하였는지 점검하여라. 1.0kΩ 저항을 통하여 Lamp test, BI/RBO, RBI 입력을 +5.0V 에 연결하여라. 이 저항은 이들 입력이 논리 HIGH로 유지되도록 해주는 풀업(pull-up) 저항이 된다. 아직 회로 결선 전이라면 도면에 핀 번호를 적어놓아라. MAN72 7-세그먼트 디스플레이의 핀 번호는 그림 3-4¹⁾에 나타나 있다. 7447A는 16핀이고 MAN72는 14핀인 것에 주의하여라.
□2진수 또는 BCD(binary code decimal) 수를 10진수로 변환.
Download : 디지털공학 실험 - 수 체계 실험.hwp( 65 )





다. 2.BCD 입력을 나타내는 그림3-1 회로를 구성하여라. 회로를 결선한 후에 전원을 연결하고 LED에 불이 들어오는지 각 스위치를 테스트하여라.
headline(제목)
설명
순서
□BCD 수를 디코딩하고 7-세그먼트로 표시해 주는 디지털 시스템 구성.
제목 수 체계 실험목표 □2진수 또는 BCD(binary code decimal) 수를 10진수로 변환. □BCD 수를 디코딩하고 7-세그먼트로 표시해 주는 디지털 시스템 구성. □모의실험용으로 결함을 만들어 놓은 회로의 고장 진단.
實驗(실험)목표(goal)
1. 이 test(실험) 의 회로를 구성하기 전에 ‘test(실험) 개요’의 ‘회로 결선’ 부분을 복습하도록 하여라. 이번 test(실험) 부터 IC에 대한 핀 번호는 省略한다. 회로 결선을 하기 전에 직접 알아낸 핀 번호를 도면에 기입해 놓는 곳도 좋은 방법이다.